AOI
Orbotech AOI検査装置
Orbotech AOI Systemは、PCBおよびICパッケージ基板製造工程において回路欠陥、オープン、ショート、微細パターン不良を自動検出する高性能AOI検査装置です。
主な仕様
- メーカー
- Orbotech
- モデル
- Discovery / Sprint Series
- 作業範囲
- PCBパネル対応
- スピンドル
- -
- 速度
- 高速検査
- 電力
- Optical Inspection System
- 電圧
- Factory Spec
- 適用分野
- HDI基板, IC Package Substrate, Automotive PCB
設備詳細説明
製品概要
Orbotech AOI Systemは、PCBおよびICパッケージ基板製造工程で回路パターンの欠陥を自動検査する光学検査装置です。
高解像度イメージング技術と高度な検査アルゴリズムを組み合わせることで、微細なパターン欠陥まで高精度に検出できます。
HDI基板や半導体パッケージ基板の生産ラインで広く使用されており、品質向上と歩留まり改善に貢献します。
主な特徴
- 高速自動光学検査
- 微細パターン欠陥検出
- オープン・ショート自動判定
- 高解像度CCD検査システム
- ICパッケージ基板検査対応
- 生産データ分析・追跡対応
- MES連携可能
適用分野
HDI基板、多層PCB、ICパッケージ基板、車載PCB、Fine Line PCB、高密度回路基板の検査工程に使用できます。